領(lǐng)學(xué)術(shù)科研之先，創(chuàng)食品科技之新
—— 中國(guó)食品雜志社
為探索黃瓜果實(shí)對(duì)低溫的忍受能力，為安全運(yùn)輸提供理論依據(jù)，本實(shí)驗(yàn)采用電導(dǎo)法結(jié)合二次回歸正交旋轉(zhuǎn)組合 設(shè)計(jì)來(lái)確定黃瓜果實(shí)低溫冷害臨界值。以黃瓜電解質(zhì)外滲百分率為冷害指標(biāo)建立模型，得到回歸方程Y＝17.279 244＋ 0.996 139x1＋3.617 484x2－0.142 947x1 2－0.136 832x2 2，根據(jù)模型得出電解質(zhì)外滲百分率在黃瓜受到冷害時(shí)的臨界值 及溫度、時(shí)間對(duì)冷害的影響。最終通過(guò)驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)確定黃瓜受到冷害時(shí)電解質(zhì)外滲率的臨界值為17.28%。
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