領(lǐng)學(xué)術(shù)科研之先，創(chuàng)食品科技之新
—— 中國(guó)食品雜志社
采用單因素試驗(yàn)和正交試驗(yàn)方法，以輻照劑量、輻照時(shí)間、物料厚度為變量，研究高能電子束輻照對(duì)大米中微生物的影響，探明高能電子束輻照對(duì)大米中主要微生物產(chǎn)生明顯作用效果的最佳作用條件。結(jié)果表明，不同輻照條件對(duì)大米中菌落總數(shù)、霉菌和酵母菌以及大腸桿菌殺菌效果不同。隨著輻照劑量的增大，對(duì)大米中微生物殺菌效果越好。正交試驗(yàn)優(yōu)化得出高能電子束輻照最佳條件為：輻照劑量4 kGy、輻照時(shí)間6 s、輻照物料厚度10.5 cm。此條件下，測(cè)得大米中菌落總數(shù)為82 CFU/g，霉菌和酵母菌總數(shù)為2 CFU/g，大腸菌群未檢出，高能電子束輻射對(duì)大米中微生物殺滅率均超過(guò)99%。
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