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臺(tái)式能量色散X射線熒光光譜直接檢測(cè)大米中的Cd
來源:食品科學(xué)網(wǎng) 閱讀量: 162 發(fā)表時(shí)間: 2017-06-07
作者: 廖學(xué)亮,沈?qū)W靜,劉明博,陳永彥,韓鵬程,屈華陽,胡學(xué)強(qiáng)
關(guān)鍵詞: 大米;Cd;能量色散X射線熒光法
摘要:

建立一種基于臺(tái)式能量色散型X射線熒光光譜對(duì)大米中重金屬Cd的快速、直接測(cè)定方法。針對(duì)普通能量色散X射線熒光光譜靈敏度低的問題,通過X射線熒光光譜理論分析并結(jié)合樣品杯試驗(yàn)提高Cd的信噪比,通過對(duì)譜圖中逃逸峰的對(duì)比分析排除其對(duì)Cd信號(hào)的干擾。本方法操作簡(jiǎn)單,不需要對(duì)大米樣品進(jìn)行前處理,可直接對(duì)大米進(jìn)行檢測(cè);本方法的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差小于10%,檢出限達(dá)到0.054 mg/kg,實(shí)驗(yàn)中所使用的工作曲線的測(cè)定線性范圍為0.06~1.0 mg/kg,單一樣品檢測(cè)時(shí)間為18 min左右,實(shí)際樣品測(cè)試結(jié)果同電感耦合等離子質(zhì)譜法結(jié)果一致,能夠滿足現(xiàn)場(chǎng)快速、準(zhǔn)確、無損測(cè)定大米中Cd含量的要求,可為大米中Cd是否超標(biāo)提供一種快速篩查方法。

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